シンクランド株式会社
Think-Lands Co., Ltd.
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センサーカード
・高感度
・反射型と透過型の2種
・ビームプロファイルの確認も可
※紫外線光対応タイプも有り
・光実験検証用
・レーザービーム検出
・放射パターン確認(透過型の場合可)
XRS-Q-■-▲▲
■=I (IR) et.al
▲▲=11,16,32,42 et.al (※IRの場合のみ)
お問い合わせありがとうございます。担当者より改めてご連絡させていただきます。