シンクランド株式会社は光学・電気技術を用いた医療機器及び
検査測定機器等の 開発・製造及び販売を担っております。

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光干渉断層計(OCTシステム)

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測定対象に応じた解析ソフトのカスタマイズ

ご要望によって波長変更を含むハードの最適化も可能

OCTだけでなくステージなど周辺装置を含むOCT統合システムとしての提供が可能


OCT (Optical Coherence Tomography)により、サンプルの内部構造を非破壊・非侵襲でイメージングできます。
カメラで見ずに光で見るため、顕微鏡と違い、透明な物質や光を反射させる物質の内部も計測が可能です。


項目 仕様 単位
Center Wavelength 1050 nm
Axial Resolution 7 μm
Lateral Resolution 9 μm
Working Distance* 25.1 mm
Field of View* 11.2 x 11.2 mm
※ LSM03スキャンレンズ使用時


    

測定データ例



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